菲希爾XDL,XUL,XAN膜厚測試儀測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。,XRF鍍層厚度分析儀配創新的X射線光學系統,專門測量極小的面積

菲希爾XDL,XUL,XAN膜厚測試儀，是結合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合標準來進行非破壞及不接觸的測量。除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量。至于需要測量電鍍槽內的金離子停含量的濃度也是十分簡單，菲希爾XDL,XUL,XAN膜厚測試儀，極適合對一些較小的樣板進行測量，尤其是對手表、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產品中的小五金零件等等，操作員只需將測試面朝下，不論大小的樣品可直接放進測量室內，不用調距離，只需對準位置，便可立即測量，這不單可以令測量更快速，還可以避免因在調校測量距離錯誤時影響計算厚度。菲希爾XDL,XUL,XAN膜厚測試儀，應用于各種大小不同的五金的測量（如：小螺絲、手表、眼鏡、端子），大面積的樣品（如：線路板），亦可測量藥水含量（只需要將藥水放進別外選購的測量杯便可以進行測量，這樣便可以隨時隨地的監察電鍍槽的藥水狀況如何，有效率地控制電鍍生產，測貴金屬成分可達到重復性約0.1%。菲希爾XDL,XUL,XAN膜厚測試儀，測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。：王生：   ：     地址：寶安中心區宏發中心大廈