傳統的芯片電性能測試需要數臺儀表完成，如電壓源、電流源、萬用表等，然而由數臺儀表組成的系統需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程復雜又耗時，又占用過多測試臺的空間，數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負載，支持四象限功能，可提供恒流測壓及恒壓測流功能,可簡化芯片電性能測試方案，IC芯片電性能分析數字源表認準普賽斯儀表咨詢

芯片測試作為芯片設計、生產、封裝、測試流程中的重要步驟，是使用特定儀器，通過對待測器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測，區別缺陷、驗證器件是否符合設計目標、分離器件好壞的過程。其中直流參數測試是檢驗芯片電性能的重要手段之一，常用的測試方法是FIMV（加電流測電壓）及FVMI（加電壓測電流）。

傳統的芯片電性能測試需要數臺儀表完成，如電壓源、電流源、萬用表等，然而由數臺儀表組成的系統需要分別進行編程、同步、連接、測量和分析，過程復雜又耗時，又占用過多測試臺的空間，而且使用單一功能的儀表和激勵源還存在復雜的相互間觸發操作，有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺陷，無法滿足高效率測試的需求。

實施芯片電性能測試的蕞佳工具之一是數字源表(SMU)，數字源表可作為獨立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負載，支持四象限功能，可提供恒流測壓及恒壓測流功能,可簡化芯片電性能測試方案。IC芯片電性能分析數字源表認準普賽斯儀表咨詢

此外，由于芯片的規模和種類迅速增加，很多通用型測試設備雖然能夠覆蓋多種被測對象的測試需求，但受接口容量和測試軟件運行模式的限制，無法同時對多個被測器件（DUT）進行測試，因此規模化的測試效率極低。特別是在生產和老化測試時，往往要求在同一時間內完成對多個DUT的測試，或者在單個DUT上異步或者同步地運行多個測試任務。

基于普賽斯CS系列多通道插卡式數字源表搭建的測試平臺，可進行多路供電及電參數的并行測試，高效、精確地對芯片進行電性能測試和測試數據的自動化處理。主機采用10插卡/3插卡結構，背板總線帶寬高達3Gbps，支持16路觸發總線，滿足多卡設備高速率通信需求；匯集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，具有通道密度高、同步觸發功能強、多設備組合效率高等特點，蕞高可擴展至40通道。

使用普賽斯數字源表進行芯片的開短路測試(Open/Short  Test)、漏電流測試（Leakage  Test）以及DC參數測試（DC ParametersTest）。

開短路測試（Open-Short  Test，也稱連續性或接觸測試），用于驗證測試系統與器件所有引腳的電接觸性，測試的過程是借用對地保護二極管進行的，測試連接電路如下所示：

漏電流測試，又稱為Leakage  Test，漏電流測試的目的主要是檢驗輸入Pin腳以及高阻狀態下的輸出Pin腳的阻抗是否夠高，測試連接電路如下所示：

DC參數的測試，一般都是Force電流測試電壓或者Force電壓測試電流，主要是測試阻抗性。一般各種DC參數都會在Datasheet里面標明，測試的主要目的是確保芯片的DC參數值符合規范：

IC芯片電性能分析數字源表認準普賽斯儀表，作為國內蕞早專注于數字源表(SMU)的研發與產業化、聚焦功率半導體測試解決方案的企業，普賽斯儀表在半導體測試測量領域展現出了堅實的技術底蘊與著越的創新潛能。未來，普賽斯儀表將持續發揮技術與創新的雙重優勢，不斷完善產品與服務，以更令先的半導體光電測試技術，為用戶創造價值，賦能半導體產業的可持續發展！